SPC案例
统计过程控制（SPC）案例分析 1. 用途 1. 分析判断生产过程的稳定性，生产过程处于统计控制状态。 2．及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异，预防不合格品产生。 3．查明生产设备和工艺装备的实际精度，以便作出正确的技术决定。 4．为评定产品质量提供依据。 二．控制图的基本格式 1．标题部分 X-R控制图数据表 |产品名称 | |工作指令编号 | |收集数 | | | | | | |据期间 | | |质量特性 | |车间 | | | | |观察方法 | |规定日产量 | |设备编号 | | |规格界限（ |Tu | |抽 |间隔 | |操作 | | |或要求） | | |样 | | |人员 | | | |Tl | | |数量 | | | | |作业指导书编号 | |仪器编号 | |检验人员 | | |生产过程 | | |质量要求 | | |日 |时间|样本号 |测 定 值 |均值 |极差R |备注 | |期 | | | |[pic] | | | | | 2．控制图部分 质 量 特 性 在方格纸上作出控制图： | | [pic]控制图 | |[pic]图 | | | | | | |班组长 | | | | |质量工程师 | | 横坐标为样本序号，纵坐标为产品质量特性。图上有三条平行线： 实线CL：中心线 虚线UCL：上控制界限线 LCL：下控制界限线。 3. 控制图的设计原理 1. 正态性假设：绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分布。 2. 3[pic]准则：99。73%。 3. 小概率事件原理：小概率事件一般是不会发生的。 4. 反证法思想。 4. 控制图的种类 1. 按产品质量的特性分（1）计量值（[pic]） （2）计数值（p，pn，u，c图）。 2. 按控制图的用途分：（1）分析用控制图；（2）控制用控制图。 5. 控制图的判断规则 1. 分析用控制图： 规则1 判稳准则-----绝大多数点子在控制界限线内（3种情况）； 规则2 判异准则-----排列无下述现象（8种情况）。 2. 控制用控制图： 规则1 每一个点子均落在控制界限内。 规则2 控制界限内点子的排列无异常现象。 [案例1] p控制图 某半导体器件厂2月份某种产品的数据如下表(2)(3)栏所表示,根据以往记录知,稳态下的 平均不合格品率[pic],作控制图对其进行控制. 数据与p图计算表 |组号(1) |样本量(2) |不合格品数D(3)|不合格品率p(|P图的UCL(5) | | | | |4) | | |1 |85 |2 |0.024 |0.102 | |2 |83 |5 |0.060 |0.103 | |3 |63 |1 |0.016 |0.112 | |4 |60 |3 |0.050 |0.114 | |5 |90 |2 |0.022 |0.100 | |6 |80 |1 |0.013 |0.104 | |7 |97 |3 |0.031 |0.098 | |8 |91 |1 |0.011 |0.100 | |9 |94 |2 |0.021 |0.099 | |10 |85 |1 |0.012 |0.102 | |11 |55 |0 |0 |0.117 | |12 |92 |1 |0.011 |0.099 | |13 |94 |0 |0 |0.099 | |14 |95 |3 |0.032 |0.098 | |15 |81 |0 |0 |0.103 | |16 |82 |7 |0.085 |0.103 | |17 |75 |3 |0.040 |0.106 | |18 |57 |1 |0.018 |0.116 | |19 |91 |6 |0.066 |0.100 | |20 |67 |2 |0.030 |0.110 | |21 |86 |3 |0.035 |0.101 | |22 |99 |8 |0.080 |0.097 | |23 |76 |1 |0.013 |0.105 | |34 |93 |8 |0.086 |0.099 | |25 |72 |5 |0.069 |0.107 | |26 |97 |9 |0.093 |0.098 | |27 |99 |10 |0.100 |0.097 | |28 |76 |2 |0.026 |0.105 | |小计 |2315 |90 | | | [解] 步骤一 :预备数据的取得,如上边表所示. 步骤二: 计算样本不合格品率[pic] 步骤三: 计算p图的控制线 [pic] 由于本例中各个样本大小[pic]不相等,所以必须对各个样本分别求出其控制界线.例如对 第一个样本n1=85,有 UCL=0.102 CL=0.0389 LCL=-0.024 此处LCL为负值,取为零.作出它的SPC图形. UCL CL LCL [案例2]为控制某无线电元件的不合格率而设计p图，生产过程质量要求为平均不合格率 ≤2%。 解：一.收集收据 在5M1E充分固定并标准化的情况下,从生产过程中收集数据,见下表所表示: 某无线电元件不合格品率数据表 |组号 |样本大小 |样本中不合格品数 |不合格品率 | |1 |835 |8 |1.0 | |2 |808 |12 |1.5 | |3 |780 |6 |0.8 | |4 |504 |12 |2.4 | |5 |860 |14 |1.6 | |6 |600 |5 |0.8 | |7 |822 |11 |1.3 | |8 |814 |8 |1.0 | |9 |618 |10 |1.6 | |10 |703 |8 |1.1 | |11 |850 |19 |2.2 | |12 |709 |11 |1.6 | |13 |700 |10 |1.4 | |14 |500 |16 |3.2 | |15 |830 |14 |1.7 | |16 |798 |7 |0.9 | |17 |813 |9 |1.1 | |18 |818 |7 |0.9 | |19 |581 |8 |1.4 | |20 |550 |6 |1.1 | |21 |807 |11 |1.4 | |22 |595 |7 |1.2 | |23 |500 |12 |2.4 | |24 |760 |7 |0.9 | |25 |620 |10 |1.6 | |总和 |17775 |248 | | |平均值 |711 | |1.4 | 二.计算样本中不合格品率:[pic],列在上表. 三.求过程平均不合格品率: [pic] 四.计算控制线 p图:[pic] 从上式可以看出,当诸样本大小[pic]不相等时,UCL,LCL随[pic]的变化而变化,其图形为 阶梯式的折线而非直线.为了方便,若有关系式: [pic] 同时满足,也即[pic]相差不大时,可以令[pic],,使得上下限仍为常数,其图形仍为直线. 本例中,[pic], 诸样本大小[pic]满足上面条件,故有控制线为: p图:[pic] 五.制作控制图: 以样本序号为横坐标,样本不合格品率为纵坐标,做p图. UCL CL LCL 六.描点:依据每个样本中的不合格品率在图上描点. 七.分析生产过程是否处于统计控制状态 从图上可以看到,第14个点超过控制界限上界,出现异常现象,这说明生产过程处于失控 状态.尽管[pic]=1.40%
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