31007测量系统分析(修订稿2002919)(doc)
综合能力考核表详细内容
31007测量系统分析(修订稿2002919)(doc)
杭州永磁集团有限公司企业标准 测量系统分析(MSA)方法 Q/HC31007A—2002 1.目的 对测量系统变差进行分析评估,以确定测量系统是否满足规定的要求,确保测量数据的 质量。 2.范围 适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。 3.职责 3.1质管部负责测量系统分析的归口管理; 3.2公司计量室负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析; 3.3各分公司(分厂)质检科负责新产品开发时测量系统分析的具体实施。 4.术语解释 4.1测量系统(Measurement system):用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备以及操作人员的集合,用来获 得测量结果的整个过程。 4.2偏倚(Bias):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。 4.3稳定性(Stability):指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获 得的测量平均值总变差,即偏倚随时间的增量。 4.4重复性:重复性(Repeatability)是指由同一位检验员,采用同一量具,多次测量同 一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。 4.5再现性: 再现性(Reproductivity) 是指由不同检验员用同一量具,多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量平均值 的变差。 4.6分辨率(Resolution):测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。 4.7可视分辨率(Apparent Resolution):测量仪器的最小增量的大小,如卡尺的可视分辨率为0.02mm。 4.8有效分辨率(Effective Resolution):考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量系统变差的置信区间长 度将制造过程变差(6δ)(或公差)划分的等级数量来表示。关于 有效分辨率,在99%置信水平时其标准估计值为1.41PV/GR&R。 4.9分辨力(Discrimination):对于单个读数系统,它是可视和有效分辨率中较差的。 杭州永磁集团有限公司2002-6-8批准 2002-6- 10实施 Q/HC31007A—2002 4.10盲测:指在实际测量环境中,检验员事先不知正在对该测量系统进行分析,也不知道 所测为那一只产品的条件下,获得的测量结果。 4.11计量型与计数型测量系统:测量系统测量结果可用具体的连续的数值来表述,这样的 测量系统称之为计量型测量系统; 测量系统测量结果用定性的数据来表述,如用通过或不能通过塞规的方式来描述一只圆棒 直径尺寸,这样的测量系统称之为计数型测量系统。计量型测量系统和计数型测量系统的 分析将用到不同的方法。 5.工作程序: 5.1测量系统分析时机:在下述三种情况下必须进行测量系统分析。 5.1.1 新产品开发时; 5.1.2检验员发生变更或新购量具或经维修过的量具投入使用前; 5.1.3 定期做,公司规定每年进行一次全面的测量系统分析,分析范围覆盖所有合格在用的不同 型号规格的量具,分析内容覆盖测量系统五性。 5.2测量系统分析条件 5.2.1测量作业必须标准化; 5.2.2检验员必须是经培训合格人员; 5.2.3测量仪器必须是检定合格状态; 5.2.4质量特性测量值可重复。 5.3计量型测量系统分析 5.3.1 稳定性分析 5.3.1.1选取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值,如果不能得到,则选择一个 落在使用的量程中程数的产品,并指定它作为标准样本进行稳定性分析。 5.3.1.2定期(天,周,月)测量基准样品3- 5次,决定样本容量和频率时考虑的因素有:校准周期、使用频率、修理次数和使用环境 等。读数应在不同时间读取以代表测量系统实际使用的情况。 5.3.1.3将测量值描绘在《量具稳定性分析报告》记录的XBAR-R控制图上。 5.3.1.4计算控制界限,并参照Q/HC31006A—2002《SPC(统计过程控制)应用方法》控制图 判读规则对不稳定或失控作出判断,如有不稳或异常现象应进行原因分析,并采取相应 措施(如对量具进行校准或维修)。 5.3.1.5测量系统稳定性分析记录于《量具稳定性分析报告》中。 Q/HC31007A—2002 5.3.2偏倚分析(独立样本法) 5.3.2.1获取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值, 如果不能得到,则选择一个落在使用的量程中程数的产品,并对其用精密的量具(通常精 度为被分析量具的4~10倍)测量10次计算平均值,此值作为“基准值”。 5.3.2.2由一位检验员,以常规方式对样品测量10次,并计算10次读数的平均值, 此值即为“观测平均值”。 5.3.2.3计算偏倚 偏倚=观测平均值--基准值 制造过程变差=6δ 偏倚%=偏倚/制造过程变差×100% 制造过程变差可从以前的过程控制图得出,或从同时进行的过程能力研究得出,如无 法求得时,可用规格公差代替。 5.3.2.4偏倚接受准则: a. 对测量重要特性的测量系统偏倚%10%时可接受; b. 对测量一般特性的测量系统10%≤偏倚%≤30%时可接受; c. 偏倚%>30%,拒绝接受。 5.3.2.5偏倚分析记录于《量具偏倚分析报告》 5.3.3线性分析 5.3.3.1选择5个产品,它们的测量值要覆盖量具的工作量程。 5.3.3.2用精密量具测量每个产品以确定它们各自的“基准值”并确认其尺寸覆盖了被分析 量具的工作量程。 5.3.3.3由被分析量具的操作员盲测每个产品12次,并计算测量平均值和偏倚。 5.3.3.4绘图:以基准值为X轴,偏倚为Y轴作散布图。 5.3.3.5使用以下公式求最佳拟合这些点的回归直线和直线的相关系数R。 y=b+ax 式中:x为基准值 y为偏倚 b为截距 a为斜率 a=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]/[ ΣXi2-(ΣXi)2/n] b=(ΣYi-aΣXi)/n R2=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]2/{[ΣXi2 -(ΣXi)2/n]×[ΣYi2-(ΣYi)2/n]} 线性= 斜率 ×(制造过程变差)= Q/HC31007A—2002 线性%=[线性/制造过程变差] ×100% 5.3.3.6线性判读准则 5.3.3.6.1线性程度判读 a. R2=1,完全相关,点散布在一条直线上; b. R2=0,完全不相关,X与Y的变化完全不存在任何依存关系; c. 0
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杭州永磁集团有限公司企业标准 测量系统分析(MSA)方法 Q/HC31007A—2002 1.目的 对测量系统变差进行分析评估,以确定测量系统是否满足规定的要求,确保测量数据的 质量。 2.范围 适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。 3.职责 3.1质管部负责测量系统分析的归口管理; 3.2公司计量室负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析; 3.3各分公司(分厂)质检科负责新产品开发时测量系统分析的具体实施。 4.术语解释 4.1测量系统(Measurement system):用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备以及操作人员的集合,用来获 得测量结果的整个过程。 4.2偏倚(Bias):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。 4.3稳定性(Stability):指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获 得的测量平均值总变差,即偏倚随时间的增量。 4.4重复性:重复性(Repeatability)是指由同一位检验员,采用同一量具,多次测量同 一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。 4.5再现性: 再现性(Reproductivity) 是指由不同检验员用同一量具,多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量平均值 的变差。 4.6分辨率(Resolution):测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。 4.7可视分辨率(Apparent Resolution):测量仪器的最小增量的大小,如卡尺的可视分辨率为0.02mm。 4.8有效分辨率(Effective Resolution):考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量系统变差的置信区间长 度将制造过程变差(6δ)(或公差)划分的等级数量来表示。关于 有效分辨率,在99%置信水平时其标准估计值为1.41PV/GR&R。 4.9分辨力(Discrimination):对于单个读数系统,它是可视和有效分辨率中较差的。 杭州永磁集团有限公司2002-6-8批准 2002-6- 10实施 Q/HC31007A—2002 4.10盲测:指在实际测量环境中,检验员事先不知正在对该测量系统进行分析,也不知道 所测为那一只产品的条件下,获得的测量结果。 4.11计量型与计数型测量系统:测量系统测量结果可用具体的连续的数值来表述,这样的 测量系统称之为计量型测量系统; 测量系统测量结果用定性的数据来表述,如用通过或不能通过塞规的方式来描述一只圆棒 直径尺寸,这样的测量系统称之为计数型测量系统。计量型测量系统和计数型测量系统的 分析将用到不同的方法。 5.工作程序: 5.1测量系统分析时机:在下述三种情况下必须进行测量系统分析。 5.1.1 新产品开发时; 5.1.2检验员发生变更或新购量具或经维修过的量具投入使用前; 5.1.3 定期做,公司规定每年进行一次全面的测量系统分析,分析范围覆盖所有合格在用的不同 型号规格的量具,分析内容覆盖测量系统五性。 5.2测量系统分析条件 5.2.1测量作业必须标准化; 5.2.2检验员必须是经培训合格人员; 5.2.3测量仪器必须是检定合格状态; 5.2.4质量特性测量值可重复。 5.3计量型测量系统分析 5.3.1 稳定性分析 5.3.1.1选取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值,如果不能得到,则选择一个 落在使用的量程中程数的产品,并指定它作为标准样本进行稳定性分析。 5.3.1.2定期(天,周,月)测量基准样品3- 5次,决定样本容量和频率时考虑的因素有:校准周期、使用频率、修理次数和使用环境 等。读数应在不同时间读取以代表测量系统实际使用的情况。 5.3.1.3将测量值描绘在《量具稳定性分析报告》记录的XBAR-R控制图上。 5.3.1.4计算控制界限,并参照Q/HC31006A—2002《SPC(统计过程控制)应用方法》控制图 判读规则对不稳定或失控作出判断,如有不稳或异常现象应进行原因分析,并采取相应 措施(如对量具进行校准或维修)。 5.3.1.5测量系统稳定性分析记录于《量具稳定性分析报告》中。 Q/HC31007A—2002 5.3.2偏倚分析(独立样本法) 5.3.2.1获取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值, 如果不能得到,则选择一个落在使用的量程中程数的产品,并对其用精密的量具(通常精 度为被分析量具的4~10倍)测量10次计算平均值,此值作为“基准值”。 5.3.2.2由一位检验员,以常规方式对样品测量10次,并计算10次读数的平均值, 此值即为“观测平均值”。 5.3.2.3计算偏倚 偏倚=观测平均值--基准值 制造过程变差=6δ 偏倚%=偏倚/制造过程变差×100% 制造过程变差可从以前的过程控制图得出,或从同时进行的过程能力研究得出,如无 法求得时,可用规格公差代替。 5.3.2.4偏倚接受准则: a. 对测量重要特性的测量系统偏倚%10%时可接受; b. 对测量一般特性的测量系统10%≤偏倚%≤30%时可接受; c. 偏倚%>30%,拒绝接受。 5.3.2.5偏倚分析记录于《量具偏倚分析报告》 5.3.3线性分析 5.3.3.1选择5个产品,它们的测量值要覆盖量具的工作量程。 5.3.3.2用精密量具测量每个产品以确定它们各自的“基准值”并确认其尺寸覆盖了被分析 量具的工作量程。 5.3.3.3由被分析量具的操作员盲测每个产品12次,并计算测量平均值和偏倚。 5.3.3.4绘图:以基准值为X轴,偏倚为Y轴作散布图。 5.3.3.5使用以下公式求最佳拟合这些点的回归直线和直线的相关系数R。 y=b+ax 式中:x为基准值 y为偏倚 b为截距 a为斜率 a=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]/[ ΣXi2-(ΣXi)2/n] b=(ΣYi-aΣXi)/n R2=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]2/{[ΣXi2 -(ΣXi)2/n]×[ΣYi2-(ΣYi)2/n]} 线性= 斜率 ×(制造过程变差)= Q/HC31007A—2002 线性%=[线性/制造过程变差] ×100% 5.3.3.6线性判读准则 5.3.3.6.1线性程度判读 a. R2=1,完全相关,点散布在一条直线上; b. R2=0,完全不相关,X与Y的变化完全不存在任何依存关系; c. 0
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